A GP-L600-324K 4K Ultra HD kohászati mikroszkóp ostyavizsgálathoz egy kutatási minőségű ostyavizsgáló kohászati mikroszkóp 4K Ultra HD felbontással. Elfogad egy végtelenségig korrigált optikai rendszer, opcionális Nomarski DIC modullal a nanoméretű felületmagasság érzékeléséhez variációk. A műszer támogatja a fényes tér és a polarizált fény megfigyelését. A trinokuláris port megkönnyíti kamera telepítése és kohászati-elemző szoftverrel való összekapcsolása. Alkalmas munkafolyamatokhoz, beleértve metallográfiai kutatás, félvezető vizsgálat és anyaghiba-elemzés.
Ez a 4K Ultra HD kohászati mikroszkóp ostyavizsgálathoz alkalmas metallográfiai mikrostruktúrák és felületi morfológia mikroszkópos megfigyelésére. Ez ideális kutatási eszköz a kohászat, ásványtan és precíziós mérnöki tudományok számára.
| Tétel | Leírás |
| Termék | GP-L600-324K Wafer Inspection Metallurgical Mikroszkóp 4K Ultra HD felbontással |
| Kategória | Laboratóriumi kutatási minőségű trinokuláris metallurgiai mikroszkóp, kompatibilis a DIC differenciálinterferenciával, világos mező / sötét mező / polarizált fény megfigyelése |
| Alaptechnológiák | Trinokuláris szinkron-néző optikai rendszer, több módú integrált megvilágítás (világos mező, sötét mező, polarizátor, differenciál-interferencia-kontraszt DIC), nagy pontosságú professzionális kohászati objektív készlet, 4K ultra-HD CMOS képérzékelő, kettős mérőrendszer (beépített monitor mérés + PC-szoftver mérés), HDMI+Gigabit-LAN kétcsatornás jelátvitel, kettős tároló technológia, nyílt architektúra, amely támogatja a másodlagos fejlesztési hozzáférést |
| Legfontosabb specifikációk | Vizuális nagyítás: 50/100/200/500×; Elektronikus nagyítás: 190/380/760/1900×; Kettős kimenet interfészek: HDMI + Gigabit-LAN port; 4K rögzítési felbontás: 3840×2160; Csak kézi élességállítás; Kettős mérés módok: beépített precíz mérés + illesztett PC-szoftver mérés; Kettős tárolási módok: U-lemez tárolás + számítógép-szoftver tárolás; Monitor terminál: méretmérés, HD kép előnézet, fotó archiválás; PC terminál: méretmérés, fotó tárolás; A teljes egység támogatja a másodlagos fejlesztésű dokkolót. |
| Tipikus alkalmazások | Félvezető lapka hibaelemzés, fémanyag metallográfiai vizsgálat, bevonat vékonyréteg- mikrostruktúra-megfigyelés, precíziós-félvezető-csomag-vizsgálat, fejlett-anyag-laboratórium- kutatás, orvosi-bioanyag-megfigyelés, elektronikai alkatrészek mikrohiba-detektálása |
| Gyártó | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Gyártó helye | Kunshan, Jiangsu, Kína (Sanghaj szomszédságában) |
Trinokuláris házba épített 4K kamera a szemlencse és a monitor egyidejű megtekintésére. Kétportos kimenet HDMI-n keresztül és a Gigabit-LAN valós időben továbbítja az ultra-HD mikroképeket.
Támogatja a DIC, a világos mező, a sötét mező és a polarizált fény megfigyelését. 4 fokozatú nagyítás, optikai 50-500X, max digitális Akár 1900-szoros nagyítás, éles részleteket biztosítva a mikrofunkciók vizsgálatához.
A kettős koaxiális élességállító gombok a megerősített lencse-cső szerelvénnyel párosítva egyenletes fókuszálást tesznek lehetővé és minimalizálják a képet remegve.
A vastag integrált fém állvány és a színpadtartó lejjebb helyezi a súlypontot, stabilan tartja a mikroszkópot hosszú órás kutatási szintű ellenőrzés.
Moduláris optikai elrendezés merev fém testtel, jól használható laboratóriumok, kutatóintézetek és félvezetők számára gyártó létesítmények.
Optimalizált ostya és chip ellenőrzésére; Széles körben alkalmazzák a félvezetők tesztelésére, metallográfiai elemzésére is, anyagkutató és precíziós-minőség-értékelő munka.
4K fotó- és videórögzítés, kettős mérési mód (beépített képernyő + PC-szoftver). Kettős tárhely U-lemezen és számítógép. A mélységélesség szintézis és a képösszefűzési funkciók kizárólag a támogatott PC-szoftvereken futnak. A másodlagos fejlesztés az LAN porton keresztül támogatott képarchiváláshoz, összehasonlításhoz és fejlett elemzéshez.
1. Optikai megfigyelési módok:Támogatja a többmódusú optikát, beleértve a DIC-t, a világos mezőt és a sötét mezőt és polarizált fény a kristály és bevonat textúrájának megfigyeléséhez. A közönséges metallurgiai mikroszkópok csak azt biztosítják alapvető világos mező, és nem képes megjeleníteni az ultravékony rétegeket és kristály mikrostruktúrákat.
2. Képalkotó rendszer:Natív 4K ultra-HD kamera, szinkronizált szemlencse és monitor megtekintés. Közönséges A metallurgiai mikroszkópok alacsony felbontású 2K kamerát alkalmaznak, csak a szemlencse nézése torzított nagy nagyítással kimenet.
3. Nagyítás beállítása:Négy fokozatú nagyítási tartomány 190-1900X, lefedi a makró áttekintését és mikro-részlet ellenőrzés. A közönséges metallurgiai mikroszkópok kevesebb nagyító fogaskerékkel és elmosódott képpel rendelkeznek nagy teljesítményű.
4. Mérés és rögzítés:Beépített monitoron precíz mérés fotó-videó rögzítéssel képesség. A hagyományos metallurgiai mikroszkópok nem rendelkeznek beépített méréssel, és minden elemzéshez PC-szoftverre van szükség és archiválás.
Félvezető és mikroelektronika (core DIC alkalmazás):
Szilícium ostyák, litográfiai szeletek, IC chipek, PCB-k, FPC rugalmas áramkörök, forrasztási kötések, csomagolóelemek.
Ellenőrzési célok: forgács-felület topográfiája, ostyamaratási minták, nanokarcolások, hidegforrasztási csatlakozások,
oxidáció és csap deformáció. A Differential-Interference-Contrast (DIC) kiemeli a finom felület-magasság-különbségeket
mikroáramkör-szelet megfigyeléshez 190-1900× nagyítási tartományon belül.
Metallográfiai fémminták:
Ötvözött metallográfiai szelvények, acél, precíziós sajtolt fém vasalat.
Ellenőrzési célpontok: fémszemcseszerkezet, hőkezelési elemzés, mikrofelületi repedések, élletörés, finom sorja,
kopásnyomok és belső anyagszennyeződések. Világos mező / sötét mező / polarizált fény módok fémkristályhoz
szerkezet megfigyelése.
Laboratóriumi minták: kristály, por, rost és vékony film:
Vegyi kristályok, fémpor, szénszál, optikai bevonat-filmek.
Figyelje meg a kristály morfológiáját, a részecskék körvonalait, a filmréteg leválását és a mikrobevonat textúráját; polarizált fény
azonosítja a kristálypolarizációs jellemzőket.
Optoelektronikai és precíziós műanyag alkatrészek:
LED chipek, optikai lencsék, üveghordozók, félvezető-csomagoló ragasztó.
Érzékeli a mikropórusokat, nanokarcolásokat, ragasztóréteg-leválást, buborékokat, foltokat és finom felületi egyenetlenségeket.
Nagy pontosságú miniatűr alkatrészek:
Csatlakozók, kivezetések, mikrorugók, apró bélyegzett munkadarabok.
4K-pixel szintű pontos mérés a hézagok, lyukátmérők, dőlésszög és felület-magasság-különbségek tekintetében; A DIC vizualizál
finom krimp-deformáció.
Egyetemi laboratóriumok és csúcskategóriás félvezető minőségellenőrzés:
Anyagkutatási kísérletek, ostya beérkező áruk vizsgálata, metallográfiai minta megfigyelése; fotó-videó
archiválás, precíz mérési minőségellenőrzési jelentések exportálása csatlakoztatott PC-n keresztül.
Mechanika:Teljes fém konstrukció a nagy merevség és rezgésállóság érdekében. Precizitás durva-finom fókuszálás holtjáték nélkül. Nagy pontosságú kézi XY mechanikus tárgyasztal alacsony kopással és minimális engedély. A trinokuláris optikai út megtartja az optikai együttállást az objektívek váltásakor.
Optika:Végtelenségig korrigált sík-akromatikus kohászati objektívek páramentes kemény bevonattal. Átbocsátott-visszavert 12V-100W halogénlámpás megvilágítás.
Képalkotás és mérés:8,3 megapixeles 4K ipari CMOS kamera. Kettős kimenet: HDMI + Gigabit-LAN port, jó interferencia-ellenállási teljesítmény ipari környezetvédelmi használatra. Támogatja a beágyazott monitoron történő mérést és PC-szoftver mérés. Kétutas tárolás U-lemezen és PC-szoftveren keresztül. Mélységélesség szintézis és képösszefűzés csak PC-szoftveren érhető el. Gigabit-LAN-on keresztül elérhető másodlagos fejlesztési interfész.
Natív 3840*2160 4K képalkotással. Alkalmas metallográfiai elemzésre, chip-áramkör vizsgálatra és professzionális teszt-jelentés generálás, amely egyértelműen feltárja a fémszemcséket, mikrokarcolásokat és apró mikrohibákat.
Kézi élességállítású kialakítás, alkalmas statikus laboratóriumi mintákhoz és alacsony frekvenciájú munkadarab-cseréhez. Stabil finomhangolás gombok a hosszú távú precíz statikus minta megfigyeléshez.
Szabványos kézi mozgóasztal és függőleges trinokuláris metallurgiai optikai út forgácsszeletekhez, kis-közepes méretű PCB-k és fém minták, hatékonyan elnyomják a tükröződő tükröződést a metallográfiai vizsgálathoz.
Kettős nagyítási tartomány: 50-500X optikai nagyítás, 190-1900X digitális nagyítás. Mindkét teljes példányt lefedi áttekintés és mikroszemcse / mikrohiba vizsgálat.
Támogatja a beépített eszközön történő mérést és a PC-szoftver mérését. HDMI + Gigabit-LAN porttal felszerelt. Fényképek, A videók és a mérési adatok kompatibilis U-lemezen vagy számítógépen menthetők. Másodlagos fejlesztés támogatott gyártósor integráció és laboratóriumi adatok nyomon követhetősége.
Semleges csomagolású szállítmány kérésre elérhető.
| Modell | GP-L600-324K |
| Felbontás | 3840×2160 |
| Valódi hatékony pixelek | 8 300 000 pixel |
| Fókuszálási módszer | Kézi fókusz |
| Optikai formátum | 1/1,7" |
| Pixel méret | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Kimeneti módszer | HDMI + Gigabit Ethernet LAN port |
| Részletes funkcionális bemutatás az egyes kimeneti interfészekhez | ① A HDMI 4K-kompatibilis kijelzőkhöz csatlakozik. Beágyazott professzionális képfeldolgozó firmware támogatás
fényképrögzítés, videó rögzítés, méretmérés, képlejátszás és képösszehasonlítás, működtetett
egérrel valós időben. ② Gigabit LAN port routerekhez, kapcsolókhoz vagy számítógépekhez csatlakozik a hálózathoz kép átvitel. Az ugyanazon a hálózati szegmensen belüli számítógépek valós idejű videó fogadására és trigger-rögzítésre képesek illesztő szoftveren keresztül. |
| Képkockasebesség | HDMI: 60 fps @ 3840×2160 Gigabit LAN: 20 fps @ 1920×1080 |
| Mélységélesség szintézis | / |
| Képfűzés | / |
| Mérési módszer | Beépített on-monitor mérőrendszer + PC-szoftver mérés |
| Mérési pontosság | 0,001 mm |
| Mértékegységek | mm / μm / mil / hüvelyk (4 kapcsolható egység) |
| Mérőeszközök | Hosszúság, szög, radián, kör, sokszög, vonallánc, középpont-középpont távolság, téglalap, megjegyzés hozzátéve, automatikus élérzékelés, léptéksáv és egyebek |
| Tárolási mód | U-lemezes tároló + PC-szoftver tárolás |
| Kijelző nyelve | Egyszerűsített kínai/angol (átkapcsolható) |
| Processzor | ARM Cortex-A17 négymagos, max 1,4 GHz-es fővezérlő processzor |
| Operációs rendszer | Független fejlesztésű mérési firmware a Linux 3.1 kernelen |
| Kép elnevezése | Automatikus vagy kézi névadás lehetséges |
| Nézőfej | 30°-os dőlésszögű csuklós trinokuláris fej; pupillák közötti beállítási tartomány: 54-76 mm; két sugárfelosztás arányok: 100:0, 0:100 |
| Megfigyelési módok | ★ Világos mező / Sötét mező / Polarizált fény / DIC (A DIC hardver opcionális) |
| Világítási rendszer | Átbocsátott-visszavert esőfény-megvilágítási rendszer, 100-240V széles feszültségű bemenet, állítható izzószál középen, folyamatosan állítható fényerősség. |
| Állvány | ① Kettős célú átvitt-visszaverő rack; alacsony kézállású koaxiális durva-finom fókuszáló mechanizmus.
Durva beállítású löket: 33 mm; finombeállítási pontosság: 0,001 mm. Reteszeléssel és határolóval felszerelt
eszközöket. ② Világos és sötét mezős reflektor változtatható rekeszértékkel, mezőstoppal és állítható középső szerelvény. ③ Zavarszűrő és színkiegyenlítő lemez (fehér fény). visszavert fény optikai útja. ④ Világos-sötét mező kapcsolókészülék; nyílások a színszűrők és polarizáló tartozékok. |
| Mechanikai szakasz | 4 hüvelykes kézi mechanikus tárgyasztal. Színpad mérete: 230 mm × 215 mm; X-Y út: 105 mm × 105 mm. Üveg mintahordozó lemez az átvitt és a visszavert megfigyeléshez. |
| Fényforrás | 12V 100W halogénlámpa kamra (visszavert fény); 12V 100W halogén lámpa (áteresztő fény). |
| Polarizációs funkció | 30 fokos polarizátor foglalat (visszavert fény); 360°-ban elforgatható elemző aljzat polarizált fényhez megfigyelés. |
| Szemlencsék | Két PL10X/22 mm-es széles látószögű síkmezős szemlencse állítható dioptriával (egy okulár irányzékkal skála). |
| Orrcső | ★ Világos-sötét mező, ötlyukú objektív orrrész |
| DIC funkció | Differenciál-interferencia-kontraszt funkció; A DIC betétlap-tartozékok opcionálisak és nem tartozékai be szabványos konfiguráció. |
| Elektronikus interfész | 0,5X C-bajonett kamera interfész, állítható fókusz; A CTV 1X opcionális ár-különbség kompenzációval. |
| Kohászati célok | ★ Világos-sötét mező félpusztító kohászati célok ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, Működőképes Távolság: 9,00 mm × 1db ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Működési távolság: 9,00 mm × 1 db ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Munkatávolság: 3,40 mm × 1db ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Munkatávolság: 7,50 mm × 1 db ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Munkatávolság: 2,10 mm (opcionális, a standard csomag nem tartalmazza) |
| Optikai nagyítás | 50X, 100X, 200X, 500X (négy fokozatban kapcsolható) |
| Elektronikus nagyítás | kb. 190X, 380X, 760X, 1900X (négy fokozatban kapcsolható); opcionális nagyítási tartomány: 380-3800X. |
A GAOPIN mikroszkópokat vezető vállalatok, kutatóintézetek és egyetemek használják. Együttműködésünk kapcsolatok közé tartozik:
Tiencsin Kereskedelmi Egyetem – Anyaglaboratóriumi oktatás, mikroképalkotás és kísérleti adatarchiválás
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Méret- és mikrohiba-észlelés precíziós megmunkálásokhoz részek
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Precíziós csatlakozó- és alkatrész-ellenőrzés
Shanghai Optikai és Finommechanikai Intézet, CAS – Haladó-optikai kutatás és optikai-komponens-jellemzés
Xi'an Jiaotong Egyetem – Haladó anyagtudomány és precíziós optika, kísérleti megfigyelés
Shanghai Kerámiai Intézet, CAS – Szervetlen kerámiák és újenergiás anyagok mikroanalízise
A Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd.-t hivatalosan 2011-ben alapították. Alapító csapatunk mélyen gyökerező 2005-ig nyúlik vissza az optikai-ellenőrző-műszerezési szakértelem. Technológiára összpontosító vállalkozás vagyunk leszállítása teljes ciklusú szolgáltatások az ipari mikroszkópok tervezésére, kutatására és fejlesztésére, globális értékesítésére és értékesítés utáni támogatására. A miénk mag mérnöki csapat több mint tíz éves speciális optikai műszer-fejlesztési tapasztalattal rendelkezik, hogy biztosítsa bizonyítottan stabil technológia és állandó-megbízható minőség.
A GAOPIN kiterjedt termékkatalógust tart fenn, több mint száz optikai műszer modellel világszerte vásárlók. Rugalmas, költséghatékony, személyre szabott mikroszkópos megoldásokat fejlesztünk sokrétű ipari-ellenőrzési és laboratóriumi-kutatási követelmények.
Gyors reagálású globális technikai támogatás áll rendelkezésre tengerentúli ügyfelek számára, beleértve az online találkozókat, lépésről lépésre videó útmutatás és távoktatás. Gyártóbázisunk Kunshanban, Jiangsuban található tartomány (Sanghajhoz közel). Üdvözöljük a helyszíni gyárlátogatásokat és a virtuális online túrákat. Kérjük, forduljon értékesítési csapatunkhoz hiteles minta-tesztelési képek, amelyeket ezzel a 4K Ultra HD felbontású Wafer Inspection Metallurgical Mikroszkóppal készített értékelni valós képalkotási teljesítmény.
1. válasz: Kettős interfésszel felszerelt HDMI nagyfelbontású kimenettel és LAN-porttal. Támogatja a valós idejű képalkotást by közvetlenül csatlakoztatható a monitorhoz, és a számítógéphez hálózati kábelen keresztül. USB és WIFI interfész nélkül ez támogatja az önálló működést és a számítógépes együttműködési munkát egyaránt.
V2: Támogatja a 4K ultra-HD fotó- és videórögzítést. A fájlok FAT32-re formázott U-lemezre menthetők 32 GB-on belül kapacitás vagy számítógépes tárhely. Támogatja mind a képernyőn, mind a PC-szoftveres precíz mérést, adatmentéssel és jelentés-export funkciók.
A3: Ellenőrizze a tápegységet és a megfelelő adaptert; erősen rögzítse a HDMI-kábelt; kapcsolja át a monitort a megfelelő HDMI jelforrásra; indítsa újra az eszközt a fekete képernyő és a kép nélküli hibák megoldásához.
A4: Ez egy kézi élességállítású modell. Lassan állítsa be a fókusz kézikereket az éles kép érdekében. Rögzítse szilárdan az objektívlencsét, fektesse le mintát vegyen lapos lencsékből és rendszeresen tisztítsa meg a port és a foltokat.
5. válasz: Győződjön meg arról, hogy a mikroszkóp és a számítógép ugyanazon az IP-szegmensen belül van; tiltsa le a tűzfalat és az elfogó szoftvert; üljön vissza hálózati kábel; indítsa újra az eszközt és a mérőszoftvert a normál kapcsolat létrehozásához.
Cím
2. épület, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kína
Tel
